Электронный каталог


 

База данных: IPR База

Страница 4, Результатов: 40

Отмеченные записи: 0

29567

    Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов XI Международной конференции, Минск, 21–24 октября 2014 г. / Свириденок А. И. - Минск : Белорусская наука, 2014. - 188 с. - ISBN 978-985-08-1775-4 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 22.338я43

Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- сканирующая микроскопия
Аннотация: В сборнике представлены материалы ХI Международной конференции «Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии» (БелСЗМ-2014). Содержание докладов отражает последние достижения ученых Беларуси, России, Украины, Польши, Германии, США, Саудовской Аравии в развитии и применении методов сканирующей зондовой микроскопии для решения научных и технических задач, а также затрагивает фундаментальные и прикладные вопросы физики, химии и биологии. Адресуется научным сотрудникам, преподавателям, аспирантам и студентам физических, химических, медицинских, биологических и технических специальностей учреждений высшего образования.

Доп.точки доступа:
Свириденок, А. И.
Суханова, Т. Е.
Вылегжанина, М. Э.
Сантурян, Ю. Г.
Волков, А. Я.
Кутин, А. А.
Гофман, И. В.
Панарин, Е. Ф.
Толстихина, А. Л.
Гайнутдинов, Р. В.
Белугина, Н. В.
Трушин, О. С.
Куприянов, А. В.
Амиров, И. И.
Dzieciol, A.
Stelmachowski, J.
Nazaruk, P.
Rymuza, Z.
Abetkovskaia, S.
Pogotskaya, I.
Chizhik, S. A.
Баран, Л. В.
Ануфрик, С. С.
Игнатовский, М. И.
Сазонко, Г. Г.
Тарковский, В. В.
Кузнецова, Т. А.
Чижик, С. А.
Кравчук, А. С.
Ширяева, Т. И.
Судиловская, К. А.
Муравьева, Т. И.
Столярова, О. О.
Сачек, Б. Я.
Мезрин, А. М.
Загорский, Д. Л.
Сильванович, Д. А.
Ташлыков, И. С.
Белов, Н. А.
Ташлыкова-Бушкевич, И. И.
Яковенко, Ю. С.
Куликаускас, В. С.
Барайшук, С. М.
Шепелевич, В. Г.
Чумаков, А. С.
Горбачев, И. А.
Ермаков, А. В.
Ким, В. П.
Глуховской, Е. Г.
Башкиров, С. А.
Vylegzhanina, M. E.
Sukhanova, T. E.
Volkov, A. Ya.
Subbotina, L. I.
Svetlichnyi, V. M.
Губанова, Г. Н.
Кононова, С. В.
Лаврентьев, В. К.
Красковский, А. Н.
Гилевская, К. С.
Скопцов, Е. А.
Грачева, Е. А.
Куликовская, В. И.
Binhussain, M. A. A.
Мельникова, Г. Б.
Парибок, И. В.
Агабеков, В. Е.
Потапов, А. Л.
Иванова, Н. А.
Дайнеко, О. А.
Бен-Хусаин, М.
Карев, Б. Д.
Карев, Д. Б.
Константинова, Е. Э.
Цапаева, Н. Л.
Дрозд, Е. С.
Кужель, Н. С.
Мычко, М. Е.
Спиридонова, О. С.
Kukharenko, L. V.
Schimmel, Th.
Fuchs, H.
Barczewski, M.
Shman, T. V.
Tarasova, A. V.
Никитина, И. А.
Стародубцева, М. Н.
Грицук, А. И.
Стародубцев, И. Е.
Егоренков, Н. И.
Абетковская, С. О.
Лактюшина, Т. В.
Чикунов, В. В.
Билоконь, С. А.
Бондаренко, М. А.
Андриенко, В. А.
Бондаренко, Ю. Ю.
Яценко, И. В.
Брич, М. А.
Айзикович, С. М.
Кренев, Л. И.
Ханукаева, Д. Ю.
Калинин, С. В.
Филиппов, А. Н.
Иевлев, А. В.
Бузилов, А. С.

Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии [Электронный ресурс] : Сборник докладов XI Международной конференции, Минск, 21–24 октября 2014 г. / Свириденок А. И., 2014. - 188 с.

31.

Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии [Электронный ресурс] : Сборник докладов XI Международной конференции, Минск, 21–24 октября 2014 г. / Свириденок А. И., 2014. - 188 с.

Открыть исходную запись


29567

    Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов XI Международной конференции, Минск, 21–24 октября 2014 г. / Свириденок А. И. - Минск : Белорусская наука, 2014. - 188 с. - ISBN 978-985-08-1775-4 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 22.338я43

Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- сканирующая микроскопия
Аннотация: В сборнике представлены материалы ХI Международной конференции «Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии» (БелСЗМ-2014). Содержание докладов отражает последние достижения ученых Беларуси, России, Украины, Польши, Германии, США, Саудовской Аравии в развитии и применении методов сканирующей зондовой микроскопии для решения научных и технических задач, а также затрагивает фундаментальные и прикладные вопросы физики, химии и биологии. Адресуется научным сотрудникам, преподавателям, аспирантам и студентам физических, химических, медицинских, биологических и технических специальностей учреждений высшего образования.

Доп.точки доступа:
Свириденок, А. И.
Суханова, Т. Е.
Вылегжанина, М. Э.
Сантурян, Ю. Г.
Волков, А. Я.
Кутин, А. А.
Гофман, И. В.
Панарин, Е. Ф.
Толстихина, А. Л.
Гайнутдинов, Р. В.
Белугина, Н. В.
Трушин, О. С.
Куприянов, А. В.
Амиров, И. И.
Dzieciol, A.
Stelmachowski, J.
Nazaruk, P.
Rymuza, Z.
Abetkovskaia, S.
Pogotskaya, I.
Chizhik, S. A.
Баран, Л. В.
Ануфрик, С. С.
Игнатовский, М. И.
Сазонко, Г. Г.
Тарковский, В. В.
Кузнецова, Т. А.
Чижик, С. А.
Кравчук, А. С.
Ширяева, Т. И.
Судиловская, К. А.
Муравьева, Т. И.
Столярова, О. О.
Сачек, Б. Я.
Мезрин, А. М.
Загорский, Д. Л.
Сильванович, Д. А.
Ташлыков, И. С.
Белов, Н. А.
Ташлыкова-Бушкевич, И. И.
Яковенко, Ю. С.
Куликаускас, В. С.
Барайшук, С. М.
Шепелевич, В. Г.
Чумаков, А. С.
Горбачев, И. А.
Ермаков, А. В.
Ким, В. П.
Глуховской, Е. Г.
Башкиров, С. А.
Vylegzhanina, M. E.
Sukhanova, T. E.
Volkov, A. Ya.
Subbotina, L. I.
Svetlichnyi, V. M.
Губанова, Г. Н.
Кононова, С. В.
Лаврентьев, В. К.
Красковский, А. Н.
Гилевская, К. С.
Скопцов, Е. А.
Грачева, Е. А.
Куликовская, В. И.
Binhussain, M. A. A.
Мельникова, Г. Б.
Парибок, И. В.
Агабеков, В. Е.
Потапов, А. Л.
Иванова, Н. А.
Дайнеко, О. А.
Бен-Хусаин, М.
Карев, Б. Д.
Карев, Д. Б.
Константинова, Е. Э.
Цапаева, Н. Л.
Дрозд, Е. С.
Кужель, Н. С.
Мычко, М. Е.
Спиридонова, О. С.
Kukharenko, L. V.
Schimmel, Th.
Fuchs, H.
Barczewski, M.
Shman, T. V.
Tarasova, A. V.
Никитина, И. А.
Стародубцева, М. Н.
Грицук, А. И.
Стародубцев, И. Е.
Егоренков, Н. И.
Абетковская, С. О.
Лактюшина, Т. В.
Чикунов, В. В.
Билоконь, С. А.
Бондаренко, М. А.
Андриенко, В. А.
Бондаренко, Ю. Ю.
Яценко, И. В.
Брич, М. А.
Айзикович, С. М.
Кренев, Л. И.
Ханукаева, Д. Ю.
Калинин, С. В.
Филиппов, А. Н.
Иевлев, А. В.
Бузилов, А. С.

121483

    Методы зондовой микроскопии : учебное пособие / Рыбин Н. Б. - Рязань : Рязанский государственный радиотехнический университет, 2014. - 48 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
зонд -- зондовая микроскопия -- ионная микроскопия
Аннотация: Приведены краткие сведения о методах зондовой микроскопии. Рассмотрены следующие классы приборов: сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, сканирующая ионная микроскопия. Предназначено для аудиторной и самостоятельной работы студентов, изучающих дисциплины «Основы зондовой микроскопии», «Методы исследования наноматериалов, микро- и наносистем», «Физика наносистем».

Доп.точки доступа:
Рыбин, Н. Б.
Рыбина, Н. В.
Литвинов, В. Г.
Ермачихин, А. В.

Методы зондовой микроскопии [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Рыбин Н. Б., 2014. - 48 с.

32.

Методы зондовой микроскопии [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Рыбин Н. Б., 2014. - 48 с.

Открыть исходную запись


121483

    Методы зондовой микроскопии : учебное пособие / Рыбин Н. Б. - Рязань : Рязанский государственный радиотехнический университет, 2014. - 48 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
зонд -- зондовая микроскопия -- ионная микроскопия
Аннотация: Приведены краткие сведения о методах зондовой микроскопии. Рассмотрены следующие классы приборов: сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, сканирующая ионная микроскопия. Предназначено для аудиторной и самостоятельной работы студентов, изучающих дисциплины «Основы зондовой микроскопии», «Методы исследования наноматериалов, микро- и наносистем», «Физика наносистем».

Доп.точки доступа:
Рыбин, Н. Б.
Рыбина, Н. В.
Литвинов, В. Г.
Ермачихин, А. В.

62332

    Физические методы в исследованиях осаждения и коррозии металлов : учебное пособие / Виноградова С. С. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2014. - 144 с. - ISBN 978-5-7882-1505-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 34.6

Кл.слова (ненормированные):
коррозия металла -- метод исследования -- осаждение -- рентгенофлуоресцентный анализ -- спектроскопия -- туннельная микроскопия -- физический метод -- электроосаждение металла -- электросиловая микроскопия
Аннотация: Описываются теоретические основы физических методов исследования морфологии, качественного и количественного состава поверхности. Рассматриваются микроскопические и спектроскопические методы исследования. Приводятся примеры применения этих методов в исследованиях осаждения и коррозии металлов. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 240100 «Химическая технология», и аспирантов, специализирующихся в области защиты металлов от коррозии. Подготовлено на кафедре технологии электрохимических производств.

Доп.точки доступа:
Виноградова, С. С.
Кайдриков, Р. А.
Макарова, А. Н.
Журавлев, Б. Л.

Физические методы в исследованиях осаждения и коррозии металлов [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Виноградова С. С., 2014. - 144 с.

33.

Физические методы в исследованиях осаждения и коррозии металлов [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Виноградова С. С., 2014. - 144 с.

Открыть исходную запись


62332

    Физические методы в исследованиях осаждения и коррозии металлов : учебное пособие / Виноградова С. С. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2014. - 144 с. - ISBN 978-5-7882-1505-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 34.6

Кл.слова (ненормированные):
коррозия металла -- метод исследования -- осаждение -- рентгенофлуоресцентный анализ -- спектроскопия -- туннельная микроскопия -- физический метод -- электроосаждение металла -- электросиловая микроскопия
Аннотация: Описываются теоретические основы физических методов исследования морфологии, качественного и количественного состава поверхности. Рассматриваются микроскопические и спектроскопические методы исследования. Приводятся примеры применения этих методов в исследованиях осаждения и коррозии металлов. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 240100 «Химическая технология», и аспирантов, специализирующихся в области защиты металлов от коррозии. Подготовлено на кафедре технологии электрохимических производств.

Доп.точки доступа:
Виноградова, С. С.
Кайдриков, Р. А.
Макарова, А. Н.
Журавлев, Б. Л.

62179
Салахов, А. М.
    Керамика. Исследование сырья, структура, свойства : учебное пособие / Салахов А. М. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2013. - 316 с. - ISBN 978-5-7882-1480-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 35.41

Кл.слова (ненормированные):
исследование сырья -- керамика -- нанокомпозит -- нанопористый материал -- сканирующая микроскопия -- структура материала
Аннотация: Показана методика изучения гранулометрического и минерального составов сырья на базе различных месторождений. Проведены исследования с использованием современной сканирующей электронной микроскопии. Современными методами исследована поровая структура материалов. Показаны пути управления процессом структурообразования различных керамических материалов. Предназначено для студентов старших курсов, магистров и аспирантов по направлению подготовки 240100 «Химическая технология», преподавателей технологических специальностей вузов, а также для широкого круга инженерно-технических работников. Подготовлено на кафедре технологии неорганических веществ и материалов.

Доп.точки доступа:
Салахова, Р. А.

Салахов, А. М. Керамика. Исследование сырья, структура, свойства [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Салахов А. М., 2013. - 316 с.

34.

Салахов, А. М. Керамика. Исследование сырья, структура, свойства [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Салахов А. М., 2013. - 316 с.

Открыть исходную запись


62179
Салахов, А. М.
    Керамика. Исследование сырья, структура, свойства : учебное пособие / Салахов А. М. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2013. - 316 с. - ISBN 978-5-7882-1480-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 35.41

Кл.слова (ненормированные):
исследование сырья -- керамика -- нанокомпозит -- нанопористый материал -- сканирующая микроскопия -- структура материала
Аннотация: Показана методика изучения гранулометрического и минерального составов сырья на базе различных месторождений. Проведены исследования с использованием современной сканирующей электронной микроскопии. Современными методами исследована поровая структура материалов. Показаны пути управления процессом структурообразования различных керамических материалов. Предназначено для студентов старших курсов, магистров и аспирантов по направлению подготовки 240100 «Химическая технология», преподавателей технологических специальностей вузов, а также для широкого круга инженерно-технических работников. Подготовлено на кафедре технологии неорганических веществ и материалов.

Доп.точки доступа:
Салахова, Р. А.

18391
Белихов, А. Б.
    Основы практической металлографии : учебное пособие / Белихов А. Б. - Саратов : Вузовское образование, 2013. - 56 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
практическая металлография -- световая микроскопия -- электронная микроскопия
Аннотация: Данное пособие предназначено для студентов физико-математических факультетов университетов, обучающихся по специализации «Физическое материаловедение». Основное внимание уделено методам световой микроскопии и методике подготовки шлифов изучаемых металлов. Кратко описана суть электронной микроскопии, рентгеновского анализа и других методов изучения и контроля структуры материалов.

Доп.точки доступа:
Белкин, П. Н.

Белихов, А. Б. Основы практической металлографии [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Белихов А. Б., 2013. - 56 с.

35.

Белихов, А. Б. Основы практической металлографии [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Белихов А. Б., 2013. - 56 с.

Открыть исходную запись


18391
Белихов, А. Б.
    Основы практической металлографии : учебное пособие / Белихов А. Б. - Саратов : Вузовское образование, 2013. - 56 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
практическая металлография -- световая микроскопия -- электронная микроскопия
Аннотация: Данное пособие предназначено для студентов физико-математических факультетов университетов, обучающихся по специализации «Физическое материаловедение». Основное внимание уделено методам световой микроскопии и методике подготовки шлифов изучаемых металлов. Кратко описана суть электронной микроскопии, рентгеновского анализа и других методов изучения и контроля структуры материалов.

Доп.точки доступа:
Белкин, П. Н.

67105

    Микробиология жəне вирусология (жеке бөлiмi) : оқу құралы / Арықпаева Y. Т. - Алматы : Нур-Принт, 2012. - 156 с. - ISBN 9965-406-89-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 52.6

Кл.слова (ненормированные):
вирус гепатита -- вирус герпеса -- вирус иммунодефицита -- вирусология -- микробиология -- реакция агглютинации -- реакция нейтрализации -- электронная микроскопия
Аннотация: Оқу құралы медициналық жəне фармацевтикалық мамандыққа арналған «Микробиология жəне вирусология» пəнiнiң типтiк оқу бағдарламасына сəйкес құрастырылған жалпы бөлiмнен тұрады. Жеке бөлiм бактериялды, вирусты, протозойлы жəне саңырау-құлақты аурулардың адамдарға патогендi қоздырғыштарының негiзгi таксономиялық топтары жайлы мəлiметтерден жəне микробио-логиялық диагностика принциптерiнен құралған. Барлық баяндалған тақырыптар бойынша тестiлiк тапсырмалар жəне бақылау сұрақтары келтiрiлген. Медициналық жəне фармацевтикалық мамандықтары бойынша оқитын студенттерге арналған.

Доп.точки доступа:
Арықпаева, Y. Т.
Алмағамбетов, К. Х.
Бисенова, Н. М.
Байдүйсенова, Ə. Ө.
Рахметова, Н. Б.
Асемова, Г. Д.

Микробиология жəне вирусология (жеке бөлiмi) [Электронный ресурс] : Оқу құралы / Арықпаева Y. Т., 2012. - 156 с.

36.

Микробиология жəне вирусология (жеке бөлiмi) [Электронный ресурс] : Оқу құралы / Арықпаева Y. Т., 2012. - 156 с.

Открыть исходную запись


67105

    Микробиология жəне вирусология (жеке бөлiмi) : оқу құралы / Арықпаева Y. Т. - Алматы : Нур-Принт, 2012. - 156 с. - ISBN 9965-406-89-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 52.6

Кл.слова (ненормированные):
вирус гепатита -- вирус герпеса -- вирус иммунодефицита -- вирусология -- микробиология -- реакция агглютинации -- реакция нейтрализации -- электронная микроскопия
Аннотация: Оқу құралы медициналық жəне фармацевтикалық мамандыққа арналған «Микробиология жəне вирусология» пəнiнiң типтiк оқу бағдарламасына сəйкес құрастырылған жалпы бөлiмнен тұрады. Жеке бөлiм бактериялды, вирусты, протозойлы жəне саңырау-құлақты аурулардың адамдарға патогендi қоздырғыштарының негiзгi таксономиялық топтары жайлы мəлiметтерден жəне микробио-логиялық диагностика принциптерiнен құралған. Барлық баяндалған тақырыптар бойынша тестiлiк тапсырмалар жəне бақылау сұрақтары келтiрiлген. Медициналық жəне фармацевтикалық мамандықтары бойынша оқитын студенттерге арналған.

Доп.точки доступа:
Арықпаева, Y. Т.
Алмағамбетов, К. Х.
Бисенова, Н. М.
Байдүйсенова, Ə. Ө.
Рахметова, Н. Б.
Асемова, Г. Д.

63529
Лыгина, Т. З.
    Физико-химические и адсорбционные методы исследования неорганических природных минеральных сорбентов : учебное пособие / Лыгина Т. З. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2009. - 79 с. - ISBN 978-5-7882-0682-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 24.4

Кл.слова (ненормированные):
адсорбционный метод -- инфракрасная спектроскопия -- минеральный сорбент -- порометрия -- термический анализ -- фазовый анализ -- химический анализ -- электронная микроскопия
Аннотация: Всесторонне изложен рекомендуемый комплекс физико-химических и адсорбционных методов исследования сорбентов. Дана общая характеристика неорганических природных минеральных сорбентов. Предназначено для студентов всех форм обучения, обучающихся по специальностям 240304 «Химическая технология тугоплавких неметаллических и силикатных материалов» и 240301 «Химическая технология неорганических веществ», изучающих дисциплины «Сырьевые ресурсы химической технологии», «Химическая технология тугоплавких неметаллических и силикатных материалов», «Химическая технология неорганических веществ».

Доп.точки доступа:
Михайлова, О. А.

Лыгина, Т. З. Физико-химические и адсорбционные методы исследования неорганических природных минеральных сорбентов [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Лыгина Т. З., 2009. - 79 с.

37.

Лыгина, Т. З. Физико-химические и адсорбционные методы исследования неорганических природных минеральных сорбентов [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Лыгина Т. З., 2009. - 79 с.

Открыть исходную запись


63529
Лыгина, Т. З.
    Физико-химические и адсорбционные методы исследования неорганических природных минеральных сорбентов : учебное пособие / Лыгина Т. З. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2009. - 79 с. - ISBN 978-5-7882-0682-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 24.4

Кл.слова (ненормированные):
адсорбционный метод -- инфракрасная спектроскопия -- минеральный сорбент -- порометрия -- термический анализ -- фазовый анализ -- химический анализ -- электронная микроскопия
Аннотация: Всесторонне изложен рекомендуемый комплекс физико-химических и адсорбционных методов исследования сорбентов. Дана общая характеристика неорганических природных минеральных сорбентов. Предназначено для студентов всех форм обучения, обучающихся по специальностям 240304 «Химическая технология тугоплавких неметаллических и силикатных материалов» и 240301 «Химическая технология неорганических веществ», изучающих дисциплины «Сырьевые ресурсы химической технологии», «Химическая технология тугоплавких неметаллических и силикатных материалов», «Химическая технология неорганических веществ».

Доп.точки доступа:
Михайлова, О. А.

12728
Кларк, Э. Р.
    Микроскопические методы исследования материалов : монография / Кларк Э. Р. - Москва : Техносфера, 2007. - 376 с. - ISBN 978-5-94836-121-5 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 30

Кл.слова (ненормированные):
исследование материалов -- компьютерная микроскопия -- микроскопические методы -- монография
Аннотация: За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.

Доп.точки доступа:
Эберхард, К. Н.

Кларк, Э. Р. Микроскопические методы исследования материалов [Электронный ресурс] : Монография / Кларк Э. Р., 2007. - 376 с.

38.

Кларк, Э. Р. Микроскопические методы исследования материалов [Электронный ресурс] : Монография / Кларк Э. Р., 2007. - 376 с.

Открыть исходную запись


12728
Кларк, Э. Р.
    Микроскопические методы исследования материалов : монография / Кларк Э. Р. - Москва : Техносфера, 2007. - 376 с. - ISBN 978-5-94836-121-5 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 30

Кл.слова (ненормированные):
исследование материалов -- компьютерная микроскопия -- микроскопические методы -- монография
Аннотация: За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.

Доп.точки доступа:
Эберхард, К. Н.

137224
Khinich, I. I.
    Introduction to nanotechnology : tutorial / Khinich I. I. - Санкт-Петербург : Издательство РГПУ им. А. И. Герцена, 2023. - 112 с. - ISBN 978-5-8064-3338-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 22.353

Кл.слова (ненормированные):
nanotechnology -- зондовая микроскопия -- наноматериалы -- нанообъект -- нанотехнологии -- наноуглеродные структуры -- физика
Аннотация: The textbook is the translation of the course of lectures on the basics of nanotechnology, the author has read for students of the training programmes «Physics. Condensed matter Physics» and «Pedagogical education. Physical Education» at the Institute of Physics of the Herzen State Pedagogical University. It examines the features of nano-size objects, the research potential of contemporary diagnostic equipment of nanotechnology, the principles of micro- and nanoelectronics. The book aims to help both Russian and foreign students who speak English at a higher level than Russian in understanding important issues of modern physics. The book can be useful to a wide range of students and teachers who want to get acquainted with the principles of nanoscience.

Доп.точки доступа:
Kononov, A. A.
Kolobov, A. V.

Khinich, I. I. Introduction to nanotechnology [Электронный ресурс] : Tutorial / Khinich I. I., 2023. - 112 с.

39.

Khinich, I. I. Introduction to nanotechnology [Электронный ресурс] : Tutorial / Khinich I. I., 2023. - 112 с.

Открыть исходную запись


137224
Khinich, I. I.
    Introduction to nanotechnology : tutorial / Khinich I. I. - Санкт-Петербург : Издательство РГПУ им. А. И. Герцена, 2023. - 112 с. - ISBN 978-5-8064-3338-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 22.353

Кл.слова (ненормированные):
nanotechnology -- зондовая микроскопия -- наноматериалы -- нанообъект -- нанотехнологии -- наноуглеродные структуры -- физика
Аннотация: The textbook is the translation of the course of lectures on the basics of nanotechnology, the author has read for students of the training programmes «Physics. Condensed matter Physics» and «Pedagogical education. Physical Education» at the Institute of Physics of the Herzen State Pedagogical University. It examines the features of nano-size objects, the research potential of contemporary diagnostic equipment of nanotechnology, the principles of micro- and nanoelectronics. The book aims to help both Russian and foreign students who speak English at a higher level than Russian in understanding important issues of modern physics. The book can be useful to a wide range of students and teachers who want to get acquainted with the principles of nanoscience.

Доп.точки доступа:
Kononov, A. A.
Kolobov, A. V.

100509
Bezrukov, A.
    Research Methods for Smart Materials : tutorial / Bezrukov A. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2018. - 84 с. - ISBN 978-5-7882-2515-9 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 81.2

Кл.слова (ненормированные):
интеллектуальный материал -- рентгеновская дифракция -- спектроскопический метод -- умный материал -- электронная микроскопия
Аннотация: The main research methods for study and characterization of smart materials (as objects of interest for modern advanced research activities) are discussed in this tutorial. Various characterization methods are considered, such as dynamic light scattering, nuclear magnetic resonance, atomic force microscopy, X-ray diffraction, electron microscopy, and etc. The primary target audience of this tutorial are Master’s students majoring in the following areas of study: 18.04.01 «Chemical Engineering», 28.04.02 «Nanoengineering», and 22.04.01 «Materials Science and Technology». This tutorial was developed at the Department of Physical and Colloidal Chemistry.

Доп.точки доступа:
Galyametdinov, Yu.

Bezrukov, A. Research Methods for Smart Materials [Электронный ресурс] : Tutorial / Bezrukov A., 2018. - 84 с.

40.

Bezrukov, A. Research Methods for Smart Materials [Электронный ресурс] : Tutorial / Bezrukov A., 2018. - 84 с.

Открыть исходную запись


100509
Bezrukov, A.
    Research Methods for Smart Materials : tutorial / Bezrukov A. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2018. - 84 с. - ISBN 978-5-7882-2515-9 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 81.2

Кл.слова (ненормированные):
интеллектуальный материал -- рентгеновская дифракция -- спектроскопический метод -- умный материал -- электронная микроскопия
Аннотация: The main research methods for study and characterization of smart materials (as objects of interest for modern advanced research activities) are discussed in this tutorial. Various characterization methods are considered, such as dynamic light scattering, nuclear magnetic resonance, atomic force microscopy, X-ray diffraction, electron microscopy, and etc. The primary target audience of this tutorial are Master’s students majoring in the following areas of study: 18.04.01 «Chemical Engineering», 28.04.02 «Nanoengineering», and 22.04.01 «Materials Science and Technology». This tutorial was developed at the Department of Physical and Colloidal Chemistry.

Доп.точки доступа:
Galyametdinov, Yu.

Страница 4, Результатов: 40

 

Все поступления за 
Или выберите интересующий месяц

 

Прокрутить вверх