База данных: IPR База
Страница 1, Результатов: 3
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
118616
Методы исследования структуры твердых тел : учебное пособие / Ожерельев В. В. - Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2021. - 108 с. - ISBN 978-5-7731-0987-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.371
Кл.слова (ненормированные):
исследование -- микроскопия -- рентгеновская дифрактометрия -- спектроскопия -- структура -- твердое тело -- электронография
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены методы исследования структуры твердых тел: рентгеновская дифрактометрия, электронография, атомно-силовая микроскопия, оже-электронная спектроскопия. Приводится описание физических основ методов, используемого оборудования и методик анализа данных. Издание предназначено для студентов направлений 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» и 16.03.01 «Техническая физика» для изучения дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем» и «Структурные методы исследований».
Доп.точки доступа:
Ожерельев, В. В.
Костюченко, А. В.
Канныкин, С. В.
Донцов, А. И.
Методы исследования структуры твердых тел : учебное пособие / Ожерельев В. В. - Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2021. - 108 с. - ISBN 978-5-7731-0987-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
исследование -- микроскопия -- рентгеновская дифрактометрия -- спектроскопия -- структура -- твердое тело -- электронография
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены методы исследования структуры твердых тел: рентгеновская дифрактометрия, электронография, атомно-силовая микроскопия, оже-электронная спектроскопия. Приводится описание физических основ методов, используемого оборудования и методик анализа данных. Издание предназначено для студентов направлений 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» и 16.03.01 «Техническая физика» для изучения дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем» и «Структурные методы исследований».
Доп.точки доступа:
Ожерельев, В. В.
Костюченко, А. В.
Канныкин, С. В.
Донцов, А. И.
2.
Подробнее
148521
Кардаш, Т. Ю.
Методы кристаллоструктурных исследований. Лекции по порошковой рентгенографии. Ч.1. Основные уравнения и методы обработки данных : учебно-методическое пособие / Кардаш Т. Ю. - Новосибирск : Новосибирский государственный университет, 2025. - 70 с. - ISBN 978-5-4437-1545-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.371
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометр -- когерентное рассеяние -- кристаллография -- кристаллоструктурное исследование -- порошковая дифракция -- порошковая рентгенография
Аннотация: Учебное-методическое пособие содержит краткое описание основных принципов порошковой дифракции, экспериментального оборудования и современных дифрактометров. Изложены основные методики обработки и интерпретации данных: описание профиля линий, определение фазового состава, работа с базами данных, уточнение параметров ячейки, определение состава твёрдых растворов, размеров области когерентного рассеяния. Пособие предназначено для студентов, знакомых с основами теории дифракции рентгеновских лучей и кристаллографии, а также для аспирантов и исследователей, использующих метод порошковой дифракции для исследования поли- и нанокристаллических материалов.
Доп.точки доступа:
Цыбуля, С. В.
Кардаш, Т. Ю.
Методы кристаллоструктурных исследований. Лекции по порошковой рентгенографии. Ч.1. Основные уравнения и методы обработки данных : учебно-методическое пособие / Кардаш Т. Ю. - Новосибирск : Новосибирский государственный университет, 2025. - 70 с. - ISBN 978-5-4437-1545-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометр -- когерентное рассеяние -- кристаллография -- кристаллоструктурное исследование -- порошковая дифракция -- порошковая рентгенография
Аннотация: Учебное-методическое пособие содержит краткое описание основных принципов порошковой дифракции, экспериментального оборудования и современных дифрактометров. Изложены основные методики обработки и интерпретации данных: описание профиля линий, определение фазового состава, работа с базами данных, уточнение параметров ячейки, определение состава твёрдых растворов, размеров области когерентного рассеяния. Пособие предназначено для студентов, знакомых с основами теории дифракции рентгеновских лучей и кристаллографии, а также для аспирантов и исследователей, использующих метод порошковой дифракции для исследования поли- и нанокристаллических материалов.
Доп.точки доступа:
Цыбуля, С. В.
3.
Подробнее
134583
Захаров, Б. А.
Практические аспекты расшифровки кристаллических структур по данным монокристального рентгеноструктурного анализа : учебно-методическое пособие / Захаров Б. А. - Новосибирск : Новосибирский государственный университет, 2023. - 41 с. - ISBN 978-5-4437-1478-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.371
Кл.слова (ненормированные):
дифракция -- кристаллическая структура -- монокристальный анализ -- программное обеспечение -- расшифровка -- рентгеноструктурный анализ
Аннотация: В пособии представлена базовая информация, необходимая для знакомства с процессом расшифровки кристаллических структур на основании данных монокристальной рентгеновской дифракции, а также информация о программном обеспечении пакета SHELX и примеры его использования для расшифровки структур. Пособие соответствует программе курса «Методы дифракционных исследований – 1» в части, посвященной практической расшифровке структур методом монокристального рентгеноструктурного анализа. Предназначено для студентов-химиков, физиков, биологов, геологов, планирующих освоить расшифровку кристаллических структур с помощью метода рентгеноструктурного анализа.
Доп.точки доступа:
Болдырева, Е. В.
Захаров, Б. А.
Практические аспекты расшифровки кристаллических структур по данным монокристального рентгеноструктурного анализа : учебно-методическое пособие / Захаров Б. А. - Новосибирск : Новосибирский государственный университет, 2023. - 41 с. - ISBN 978-5-4437-1478-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дифракция -- кристаллическая структура -- монокристальный анализ -- программное обеспечение -- расшифровка -- рентгеноструктурный анализ
Аннотация: В пособии представлена базовая информация, необходимая для знакомства с процессом расшифровки кристаллических структур на основании данных монокристальной рентгеновской дифракции, а также информация о программном обеспечении пакета SHELX и примеры его использования для расшифровки структур. Пособие соответствует программе курса «Методы дифракционных исследований – 1» в части, посвященной практической расшифровке структур методом монокристального рентгеноструктурного анализа. Предназначено для студентов-химиков, физиков, биологов, геологов, планирующих освоить расшифровку кристаллических структур с помощью метода рентгеноструктурного анализа.
Доп.точки доступа:
Болдырева, Е. В.
Страница 1, Результатов: 3