База данных: IPR База
Страница 1, Результатов: 8
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
153413
Проведение исследований дифракционными методами с использованием дифрактометрической системы SuperNova : учебное пособие / Ганжа А. Е. - Санкт-Петербург : Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, 2025. - 84 с. - ISBN 978-5-7422-8903-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.37
Кл.слова (ненормированные):
дифракция -- обратная решетка -- уравнение вульфа–брэгга -- условие лауэ
Аннотация: В пособии приведены основные формулы кинематической теории рентгеновской дифракции, объяснена основная графическая схема для определения условий отражения излучения от кристаллов, описаны дифрактометрическая система SuperNova и подходы при работе с ней при помощи стандартного программного обеспечения. Предназначено для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям магистров 16.03.01 – «Техническая физика». Материалы учебного пособия могут быть использованы при изучении курсов «Радиационная физика» и «Экспериментальные методы исследования» студентами старших курсов, а также аспирантами и научными работниками при выполнении научно-исследовательских работ.
Доп.точки доступа:
Ганжа, А. Е.
Вакуленко, А. Ф.
Князева, М. А.
Архипов, Н. А.
Бурковский, Р. Г.
Проведение исследований дифракционными методами с использованием дифрактометрической системы SuperNova : учебное пособие / Ганжа А. Е. - Санкт-Петербург : Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, 2025. - 84 с. - ISBN 978-5-7422-8903-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дифракция -- обратная решетка -- уравнение вульфа–брэгга -- условие лауэ
Аннотация: В пособии приведены основные формулы кинематической теории рентгеновской дифракции, объяснена основная графическая схема для определения условий отражения излучения от кристаллов, описаны дифрактометрическая система SuperNova и подходы при работе с ней при помощи стандартного программного обеспечения. Предназначено для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям магистров 16.03.01 – «Техническая физика». Материалы учебного пособия могут быть использованы при изучении курсов «Радиационная физика» и «Экспериментальные методы исследования» студентами старших курсов, а также аспирантами и научными работниками при выполнении научно-исследовательских работ.
Доп.точки доступа:
Ганжа, А. Е.
Вакуленко, А. Ф.
Князева, М. А.
Архипов, Н. А.
Бурковский, Р. Г.
2.
Подробнее
116423
Исаенкова, М. Г.
Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда : лабораторная работа. Учебное пособие / Исаенкова М. Г. - Москва : Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2019. - 32 с. - ISBN 978-5-7262-2376-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.34
Кл.слова (ненормированные):
кристаллическая структура -- поликристаллический материал -- порошковый материал
Аннотация: Учебное пособие «Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда» по дисциплинам «Структура и свойства наноматериалов и сложных соединений», «Современные представления о структуре материалов», «Физические основы дифракционных методов и структура материалов» знакомит студентов с методом восстановления структуры исследуемого вещества, широко используемым мировым научным сообществом при расшифровке дифракционных спектров порошковых материалов, и способами описания структурного состояния поликристаллического материала, определяемого профилем рентгеновской линии. В ходе выполнения работы и подготовки к защите полученных результатов студенты знакомятся с основными понятиями, физическими принципами методов рентгеноструктурного анализа, этапами определения характеристик структуры поликристаллических материалов; выполняют необходимые экспериментальные процедуры на рентгеновском дифрактометре, определяют характеристики рентгеновских линий, рассчитывают параметры элементарных ячеек, размеры блоков когерентного рассеяния и величину упругих микродеформаций для различных материалов. Учебное пособие содержит практические указания по выполнению лабораторной работы и контрольные вопросы для ее сдачи. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по направлениям «Технологии разделения изотопов и ядерное топливо», «Материаловедение и технологии материалов» и «Ядерные физика и технологии».
Доп.точки доступа:
Крымская, О. А.
Перлович, Ю. А.
Исаенкова, М. Г.
Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда : лабораторная работа. Учебное пособие / Исаенкова М. Г. - Москва : Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2019. - 32 с. - ISBN 978-5-7262-2376-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
кристаллическая структура -- поликристаллический материал -- порошковый материал
Аннотация: Учебное пособие «Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда» по дисциплинам «Структура и свойства наноматериалов и сложных соединений», «Современные представления о структуре материалов», «Физические основы дифракционных методов и структура материалов» знакомит студентов с методом восстановления структуры исследуемого вещества, широко используемым мировым научным сообществом при расшифровке дифракционных спектров порошковых материалов, и способами описания структурного состояния поликристаллического материала, определяемого профилем рентгеновской линии. В ходе выполнения работы и подготовки к защите полученных результатов студенты знакомятся с основными понятиями, физическими принципами методов рентгеноструктурного анализа, этапами определения характеристик структуры поликристаллических материалов; выполняют необходимые экспериментальные процедуры на рентгеновском дифрактометре, определяют характеристики рентгеновских линий, рассчитывают параметры элементарных ячеек, размеры блоков когерентного рассеяния и величину упругих микродеформаций для различных материалов. Учебное пособие содержит практические указания по выполнению лабораторной работы и контрольные вопросы для ее сдачи. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по направлениям «Технологии разделения изотопов и ядерное топливо», «Материаловедение и технологии материалов» и «Ядерные физика и технологии».
Доп.точки доступа:
Крымская, О. А.
Перлович, Ю. А.
3.
Подробнее
134583
Захаров, Б. А.
Практические аспекты расшифровки кристаллических структур по данным монокристального рентгеноструктурного анализа : учебно-методическое пособие / Захаров Б. А. - Новосибирск : Новосибирский государственный университет, 2023. - 41 с. - ISBN 978-5-4437-1478-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.371
Кл.слова (ненормированные):
дифракция -- кристаллическая структура -- монокристальный анализ -- программное обеспечение -- расшифровка -- рентгеноструктурный анализ
Аннотация: В пособии представлена базовая информация, необходимая для знакомства с процессом расшифровки кристаллических структур на основании данных монокристальной рентгеновской дифракции, а также информация о программном обеспечении пакета SHELX и примеры его использования для расшифровки структур. Пособие соответствует программе курса «Методы дифракционных исследований – 1» в части, посвященной практической расшифровке структур методом монокристального рентгеноструктурного анализа. Предназначено для студентов-химиков, физиков, биологов, геологов, планирующих освоить расшифровку кристаллических структур с помощью метода рентгеноструктурного анализа.
Доп.точки доступа:
Болдырева, Е. В.
Захаров, Б. А.
Практические аспекты расшифровки кристаллических структур по данным монокристального рентгеноструктурного анализа : учебно-методическое пособие / Захаров Б. А. - Новосибирск : Новосибирский государственный университет, 2023. - 41 с. - ISBN 978-5-4437-1478-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дифракция -- кристаллическая структура -- монокристальный анализ -- программное обеспечение -- расшифровка -- рентгеноструктурный анализ
Аннотация: В пособии представлена базовая информация, необходимая для знакомства с процессом расшифровки кристаллических структур на основании данных монокристальной рентгеновской дифракции, а также информация о программном обеспечении пакета SHELX и примеры его использования для расшифровки структур. Пособие соответствует программе курса «Методы дифракционных исследований – 1» в части, посвященной практической расшифровке структур методом монокристального рентгеноструктурного анализа. Предназначено для студентов-химиков, физиков, биологов, геологов, планирующих освоить расшифровку кристаллических структур с помощью метода рентгеноструктурного анализа.
Доп.точки доступа:
Болдырева, Е. В.
4.
Подробнее
149335
Марьина, У. А.
Рентгеновские методы анализа : учебное пособие (лабораторный практикум) / Марьина У. А. - Ставрополь : Северо-Кавказский федеральный университет, 2022. - 113 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.346
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометр empyrean -- лабораторные работы -- порошковая дифрактометрия -- рентгеновская дифрактометрия -- теоретические вопросы
Аннотация: Пособие включает лабораторные работы, в которых изложены основные теоретические вопросы по всем разделам, приведено теоретическое обоснование методов, использованных в лабораторных работах, приведены схемы установок с описанием принципа их действия и указаниями по технике безопасности, подробно описан порядок выполнения работ. Предназначено для студентов направления подготовки 28.03.02 Наноинженерия и составлено в соответствии с требованиями ФГОС ВО.
Доп.точки доступа:
Пигулев, Р. В.
Вакалов, Д. С.
Марьина, У. А.
Рентгеновские методы анализа : учебное пособие (лабораторный практикум) / Марьина У. А. - Ставрополь : Северо-Кавказский федеральный университет, 2022. - 113 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометр empyrean -- лабораторные работы -- порошковая дифрактометрия -- рентгеновская дифрактометрия -- теоретические вопросы
Аннотация: Пособие включает лабораторные работы, в которых изложены основные теоретические вопросы по всем разделам, приведено теоретическое обоснование методов, использованных в лабораторных работах, приведены схемы установок с описанием принципа их действия и указаниями по технике безопасности, подробно описан порядок выполнения работ. Предназначено для студентов направления подготовки 28.03.02 Наноинженерия и составлено в соответствии с требованиями ФГОС ВО.
Доп.точки доступа:
Пигулев, Р. В.
Вакалов, Д. С.
5.
Подробнее
111703
Основы рентгеновской дифрактометрии : лабораторный практикум / сост. Ю. В. Великанова. - Самара : Самарский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2020. - 78 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.344
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- исследование -- кристалл -- лабораторная работа -- рентген
Аннотация: Данные лабораторные работы знакомят обучающихся с основами дифракционных методов исследования кристаллов и с базовыми понятиями кристаллографии. Материал предназначен для студентов 4 курса очной и очно-заочной формы обучения и преподавателей дисциплины «Основы рентгеновской дифрактометрии».
Доп.точки доступа:
Великанова, Ю. В. \сост.\
Основы рентгеновской дифрактометрии : лабораторный практикум / сост. Ю. В. Великанова. - Самара : Самарский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2020. - 78 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- исследование -- кристалл -- лабораторная работа -- рентген
Аннотация: Данные лабораторные работы знакомят обучающихся с основами дифракционных методов исследования кристаллов и с базовыми понятиями кристаллографии. Материал предназначен для студентов 4 курса очной и очно-заочной формы обучения и преподавателей дисциплины «Основы рентгеновской дифрактометрии».
Доп.точки доступа:
Великанова, Ю. В. \сост.\
6.
Подробнее
116393
Исаенкова, М. Г.
Дифрактометрический фазовый анализ порошковых материалов : лабораторная работа. Учебное пособие / Исаенкова М. Г. - Москва : Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2019. - 51 с. - ISBN 978-5-7262-2356-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.34
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрический фазовый анализ -- наноматериал -- порошковый материал
Аннотация: Учебное пособие «Дифрактометрический фазовый анализ порошковых материалов» для дисциплин «Структура и свойства наноматериалов и сложных соединений», «Современные представления о структуре материалов», «Физические основы дифракционных методов и структура материалов» знакомит студентов с основными понятиями и физическими принципами метода рентгеновского фазового анализа, принципами работы с международными базами рентгенографических данных и процедурой определения фазового состава образцов из различных материалов, а также способствует приобретению экспериментальных навыков работы на рентгеновском дифрактометре D8 Discover. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по направлениям «Технологии разделения изотопов и ядерное топливо», «Материаловедение и технологии материалов» и «Ядерные физика и технологии».
Доп.точки доступа:
Крымская, О. А.
Перлович, Ю. А.
Исаенкова, М. Г.
Дифрактометрический фазовый анализ порошковых материалов : лабораторная работа. Учебное пособие / Исаенкова М. Г. - Москва : Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2019. - 51 с. - ISBN 978-5-7262-2356-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрический фазовый анализ -- наноматериал -- порошковый материал
Аннотация: Учебное пособие «Дифрактометрический фазовый анализ порошковых материалов» для дисциплин «Структура и свойства наноматериалов и сложных соединений», «Современные представления о структуре материалов», «Физические основы дифракционных методов и структура материалов» знакомит студентов с основными понятиями и физическими принципами метода рентгеновского фазового анализа, принципами работы с международными базами рентгенографических данных и процедурой определения фазового состава образцов из различных материалов, а также способствует приобретению экспериментальных навыков работы на рентгеновском дифрактометре D8 Discover. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по направлениям «Технологии разделения изотопов и ядерное топливо», «Материаловедение и технологии материалов» и «Ядерные физика и технологии».
Доп.точки доступа:
Крымская, О. А.
Перлович, Ю. А.
7.
Подробнее
116396
Исаенкова, М. Г.
Кристаллографическая текстура поликристаллических материалов : лабораторная работа. Учебное пособие / Исаенкова М. Г. - Москва : Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2019. - 40 с. - ISBN 978-5-7262-2374-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.346
Кл.слова (ненормированные):
кристаллографическая текстура -- наноматериал -- поликристаллический материал
Аннотация: Учебное пособие «Кристаллографическая текстура поликристаллических материалов» по дисциплинам «Структура и свойства наноматериалов и сложных соединений», «Современные представления о структуре материалов», «Физические основы дифракционных методов и структура материалов» знакомит студентов со способами описания преимущественной ориентации зерен в поликристаллических материалах с разными кристаллическими решетками, рентгеновскими дифрактометрическими методами измерения прямых и обратных полюсных фигур, способами их индицирования и представления, методами расчета ФРО. Описание содержит практические указания по выполнению лабораторной работы и контрольные вопросы для её сдачи. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по направлениям «Технологии разделения изотопов и ядерное топливо», «Материаловедение и технологии материалов» и «Ядерные физика и технологии».
Доп.точки доступа:
Крымская, О. А.
Перлович, Ю. А.
Исаенкова, М. Г.
Кристаллографическая текстура поликристаллических материалов : лабораторная работа. Учебное пособие / Исаенкова М. Г. - Москва : Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2019. - 40 с. - ISBN 978-5-7262-2374-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
кристаллографическая текстура -- наноматериал -- поликристаллический материал
Аннотация: Учебное пособие «Кристаллографическая текстура поликристаллических материалов» по дисциплинам «Структура и свойства наноматериалов и сложных соединений», «Современные представления о структуре материалов», «Физические основы дифракционных методов и структура материалов» знакомит студентов со способами описания преимущественной ориентации зерен в поликристаллических материалах с разными кристаллическими решетками, рентгеновскими дифрактометрическими методами измерения прямых и обратных полюсных фигур, способами их индицирования и представления, методами расчета ФРО. Описание содержит практические указания по выполнению лабораторной работы и контрольные вопросы для её сдачи. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по направлениям «Технологии разделения изотопов и ядерное топливо», «Материаловедение и технологии материалов» и «Ядерные физика и технологии».
Доп.точки доступа:
Крымская, О. А.
Перлович, Ю. А.
8.
Подробнее
20072
Анищик, В. М.
Дифракционный анализ : учебное пособие / Анищик В. М. - Минск : Вышэйшая школа, 2011. - 215 с. - ISBN 978-985-06-1834-4 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.344
Кл.слова (ненормированные):
дифракционный анализ -- радиационное материаловедение -- рентгеновский луч -- рентгенотехника -- структурный анализ
Аннотация: Рассмотрены основные положения физики рентгеновских лучей, рентгенотехники, теории дифракции рентгеновских лучей и электронов. Изложены основные методы структурного анализа и его практического применения для исследования кристаллов. Для студентов, специализирующихся в области физики и химии конденсированного состояния, металлофизики и радиационного материаловедения. Может быть полезно аспирантам, инженерам и исследователям.
Доп.точки доступа:
Понарядов, В. В.
Углов, В. В.
Анищик, В. М.
Дифракционный анализ : учебное пособие / Анищик В. М. - Минск : Вышэйшая школа, 2011. - 215 с. - ISBN 978-985-06-1834-4 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дифракционный анализ -- радиационное материаловедение -- рентгеновский луч -- рентгенотехника -- структурный анализ
Аннотация: Рассмотрены основные положения физики рентгеновских лучей, рентгенотехники, теории дифракции рентгеновских лучей и электронов. Изложены основные методы структурного анализа и его практического применения для исследования кристаллов. Для студентов, специализирующихся в области физики и химии конденсированного состояния, металлофизики и радиационного материаловедения. Может быть полезно аспирантам, инженерам и исследователям.
Доп.точки доступа:
Понарядов, В. В.
Углов, В. В.
Страница 1, Результатов: 8