База данных: База IPR
Беті 1, Нәтижелерін: 7
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
152822
Юшков, Ю. Г.
Оборудование для электронно-лучевых и плазменных технологий в форвакууме : учебное пособие / Юшков Ю. Г. - Томск : Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, 2023. - 68 с. - ISBN 978-5-6050215-3-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 32.85
Кл.слова (ненормированные):
диэлектрик -- диэлектрическая мишень -- плазма -- плазменные технологии -- форвакуум -- электронно-лучевые технологии -- электронный пучок
Аннотация: Рассмотрено оборудование для электронно-лучевых и плазменных технологий, диагностическое и вспомогательное оборудование для реализации процессов взаимодействия ускоренного электронного пучка с поверхностью диэлектрических мишеней, физические принципы работы пучкового и плазменного технологического оборудования. Для аспирантов, а также студентов высших учебных заведений, специализирующихся в области физической электроники и ионно-плазменных и лучевых технологий, вакуумной и плазменной электроники, микро- и наноэлектроники, физики твердого тела, материаловедения. Может быть полезно для специалистов и инженеров, чья работа связана с вопросами взаимодействия плазмы, электронных и ионных пучков с поверхностью, методами обработки материалов потоками заряженных частиц в различных областях науки и техники.
Доп.точки доступа:
Климов, А. С.
Юшков, Ю. Г.
Оборудование для электронно-лучевых и плазменных технологий в форвакууме : учебное пособие / Юшков Ю. Г. - Томск : Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, 2023. - 68 с. - ISBN 978-5-6050215-3-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
диэлектрик -- диэлектрическая мишень -- плазма -- плазменные технологии -- форвакуум -- электронно-лучевые технологии -- электронный пучок
Аннотация: Рассмотрено оборудование для электронно-лучевых и плазменных технологий, диагностическое и вспомогательное оборудование для реализации процессов взаимодействия ускоренного электронного пучка с поверхностью диэлектрических мишеней, физические принципы работы пучкового и плазменного технологического оборудования. Для аспирантов, а также студентов высших учебных заведений, специализирующихся в области физической электроники и ионно-плазменных и лучевых технологий, вакуумной и плазменной электроники, микро- и наноэлектроники, физики твердого тела, материаловедения. Может быть полезно для специалистов и инженеров, чья работа связана с вопросами взаимодействия плазмы, электронных и ионных пучков с поверхностью, методами обработки материалов потоками заряженных частиц в различных областях науки и техники.
Доп.точки доступа:
Климов, А. С.
2.
Подробнее
134864
Трубицын, А. А.
Моделирование систем параксиальной электронной оптики : учебное пособие / Трубицын А. А. - Рязань : Рязанский государственный радиотехнический университет, 2022. - 80 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.3
Кл.слова (ненормированные):
моделирование -- уравнение буша -- уравнение гельмгольца-лагранжа -- фокусировка -- электронная оптика -- электростатическое поле
Аннотация: Содержит теоретические сведения об основных законах электронной оптики, подробно рассматриваются условия пространственной и угловой фокусировок, распределение потенциала аксиально-симметричного электростатического поля, уравнение Буша, формулы углового и линейного увеличения, уравнение Гельмгольца-Лагранжа. Также приводится методика расчета кардинальных элементов электростатических линз. К пособию прилагаются четыре практических задания по моделированию систем параксиальной электронной оптики в среде MathCAD. Предназначено для студентов технических вузов, обладающих начальными сведениями из физики и высшей математики.
Доп.точки доступа:
Кочергин, Э. Г.
Трубицын, А. А.
Моделирование систем параксиальной электронной оптики : учебное пособие / Трубицын А. А. - Рязань : Рязанский государственный радиотехнический университет, 2022. - 80 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
моделирование -- уравнение буша -- уравнение гельмгольца-лагранжа -- фокусировка -- электронная оптика -- электростатическое поле
Аннотация: Содержит теоретические сведения об основных законах электронной оптики, подробно рассматриваются условия пространственной и угловой фокусировок, распределение потенциала аксиально-симметричного электростатического поля, уравнение Буша, формулы углового и линейного увеличения, уравнение Гельмгольца-Лагранжа. Также приводится методика расчета кардинальных элементов электростатических линз. К пособию прилагаются четыре практических задания по моделированию систем параксиальной электронной оптики в среде MathCAD. Предназначено для студентов технических вузов, обладающих начальными сведениями из физики и высшей математики.
Доп.точки доступа:
Кочергин, Э. Г.
3.
Подробнее
118616
Методы исследования структуры твердых тел : учебное пособие / Ожерельев В. В. - Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2021. - 108 с. - ISBN 978-5-7731-0987-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.371
Кл.слова (ненормированные):
исследование -- микроскопия -- рентгеновская дифрактометрия -- спектроскопия -- структура -- твердое тело -- электронография
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены методы исследования структуры твердых тел: рентгеновская дифрактометрия, электронография, атомно-силовая микроскопия, оже-электронная спектроскопия. Приводится описание физических основ методов, используемого оборудования и методик анализа данных. Издание предназначено для студентов направлений 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» и 16.03.01 «Техническая физика» для изучения дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем» и «Структурные методы исследований».
Доп.точки доступа:
Ожерельев, В. В.
Костюченко, А. В.
Канныкин, С. В.
Донцов, А. И.
Методы исследования структуры твердых тел : учебное пособие / Ожерельев В. В. - Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2021. - 108 с. - ISBN 978-5-7731-0987-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
исследование -- микроскопия -- рентгеновская дифрактометрия -- спектроскопия -- структура -- твердое тело -- электронография
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены методы исследования структуры твердых тел: рентгеновская дифрактометрия, электронография, атомно-силовая микроскопия, оже-электронная спектроскопия. Приводится описание физических основ методов, используемого оборудования и методик анализа данных. Издание предназначено для студентов направлений 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» и 16.03.01 «Техническая физика» для изучения дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем» и «Структурные методы исследований».
Доп.точки доступа:
Ожерельев, В. В.
Костюченко, А. В.
Канныкин, С. В.
Донцов, А. И.
4.
Подробнее
61986
Вознесенский, Э. Ф.
Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии : учебное пособие / Вознесенский Э. Ф. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2014. - 184 с. - ISBN 978-5-7882-1545-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.33я7
Кл.слова (ненормированные):
исследование материала -- метод исследования -- метод микроскопии -- рентгеновская микроскопия -- структурное исследование -- томография
Аннотация: Рассмотрены основные методы исследования структуры материалов, параметры микроструктуры и способы ее визуализации. Особое внимание уделено методам микроскопии, применяемым в материаловедении, таким как оптическая, электронная и зондовая. Приведены сведения о дополнительных и специальных микроскопических методах. Предназначено для студентов всех форм обучения по направлениям подготовки 152200.62 «Наноинженерия», 150100.62 «Материаловедение и технология материалов» (профиль «Материаловедение и технология наноматериалов»), а также может быть полезно для научных работников, преподавателей и аспирантов вузов. Подготовлено на кафедре плазмохимических и нанотехнологий высокомолекулярных материалов.
Доп.точки доступа:
Шарифуллин, Ф. С.
Абдуллин, И. Ш.
Вознесенский, Э. Ф.
Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии : учебное пособие / Вознесенский Э. Ф. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2014. - 184 с. - ISBN 978-5-7882-1545-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
исследование материала -- метод исследования -- метод микроскопии -- рентгеновская микроскопия -- структурное исследование -- томография
Аннотация: Рассмотрены основные методы исследования структуры материалов, параметры микроструктуры и способы ее визуализации. Особое внимание уделено методам микроскопии, применяемым в материаловедении, таким как оптическая, электронная и зондовая. Приведены сведения о дополнительных и специальных микроскопических методах. Предназначено для студентов всех форм обучения по направлениям подготовки 152200.62 «Наноинженерия», 150100.62 «Материаловедение и технология материалов» (профиль «Материаловедение и технология наноматериалов»), а также может быть полезно для научных работников, преподавателей и аспирантов вузов. Подготовлено на кафедре плазмохимических и нанотехнологий высокомолекулярных материалов.
Доп.точки доступа:
Шарифуллин, Ф. С.
Абдуллин, И. Ш.
5.
Подробнее
121434
Рыбина, Н. В.
Физические основы оптоэлектроники. Светодиоды : учебное пособие / Рыбина Н. В. - Рязань : Рязанский государственный радиотехнический университет, 2017. - 48 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 32.85
Кл.слова (ненормированные):
когерентность -- оптоэлектроника -- полупроводники -- энергетические характеристики
Аннотация: Представлена информация о фотометрических и энергетических характеристиках оптоэлектронных приборов. Рассмотрены основные квантовые явления в полупроводниках. Описаны основные характеристики, параметры и конструкции светоизлучающих диодов. Предназначено для аудиторной и самостоятельной работы студентов дневного отделения направления 11.03.04, изучающих дисциплину «Оптоэлектроника и квантовая оптика».
Доп.точки доступа:
Рыбин, Н. Б.
Рыбина, Н. В.
Физические основы оптоэлектроники. Светодиоды : учебное пособие / Рыбина Н. В. - Рязань : Рязанский государственный радиотехнический университет, 2017. - 48 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
когерентность -- оптоэлектроника -- полупроводники -- энергетические характеристики
Аннотация: Представлена информация о фотометрических и энергетических характеристиках оптоэлектронных приборов. Рассмотрены основные квантовые явления в полупроводниках. Описаны основные характеристики, параметры и конструкции светоизлучающих диодов. Предназначено для аудиторной и самостоятельной работы студентов дневного отделения направления 11.03.04, изучающих дисциплину «Оптоэлектроника и квантовая оптика».
Доп.точки доступа:
Рыбин, Н. Б.
6.
Подробнее
121482
Методы исследования процессов самоорганизации : учебное пособие / Алпатов А. В. - Рязань : Рязанский государственный радиотехнический университет, 2015. - 56 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.3
Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- исследование -- процессы самоорганизации -- рентгеноструктурный анализ
Аннотация: Приведены краткие сведения о физических и аналитических методах исследования процессов самоорганизации. Подробно рассмотрены метод средней взаимной информации и метод двухмерного флуктуационного анализа с исключенным трендом. Предназначено для аудиторной и самостоятельной работы студентов, изучающих дисциплины «Методы исследования наноматериалов, микро- и наносистем», «Физика наносистем», «Физические принципы создания, анализа и применения наносистем».
Доп.точки доступа:
Алпатов, А. В.
Вихров, С. П.
Рыбина, Н. В.
Рыбин, Н. Б.
Методы исследования процессов самоорганизации : учебное пособие / Алпатов А. В. - Рязань : Рязанский государственный радиотехнический университет, 2015. - 56 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- исследование -- процессы самоорганизации -- рентгеноструктурный анализ
Аннотация: Приведены краткие сведения о физических и аналитических методах исследования процессов самоорганизации. Подробно рассмотрены метод средней взаимной информации и метод двухмерного флуктуационного анализа с исключенным трендом. Предназначено для аудиторной и самостоятельной работы студентов, изучающих дисциплины «Методы исследования наноматериалов, микро- и наносистем», «Физика наносистем», «Физические принципы создания, анализа и применения наносистем».
Доп.точки доступа:
Алпатов, А. В.
Вихров, С. П.
Рыбина, Н. В.
Рыбин, Н. Б.
7.
Подробнее
121483
Методы зондовой микроскопии : учебное пособие / Рыбин Н. Б. - Рязань : Рязанский государственный радиотехнический университет, 2014. - 48 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.3
Кл.слова (ненормированные):
зонд -- зондовая микроскопия -- ионная микроскопия
Аннотация: Приведены краткие сведения о методах зондовой микроскопии. Рассмотрены следующие классы приборов: сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, сканирующая ионная микроскопия. Предназначено для аудиторной и самостоятельной работы студентов, изучающих дисциплины «Основы зондовой микроскопии», «Методы исследования наноматериалов, микро- и наносистем», «Физика наносистем».
Доп.точки доступа:
Рыбин, Н. Б.
Рыбина, Н. В.
Литвинов, В. Г.
Ермачихин, А. В.
Методы зондовой микроскопии : учебное пособие / Рыбин Н. Б. - Рязань : Рязанский государственный радиотехнический университет, 2014. - 48 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
зонд -- зондовая микроскопия -- ионная микроскопия
Аннотация: Приведены краткие сведения о методах зондовой микроскопии. Рассмотрены следующие классы приборов: сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, сканирующая ионная микроскопия. Предназначено для аудиторной и самостоятельной работы студентов, изучающих дисциплины «Основы зондовой микроскопии», «Методы исследования наноматериалов, микро- и наносистем», «Физика наносистем».
Доп.точки доступа:
Рыбин, Н. Б.
Рыбина, Н. В.
Литвинов, В. Г.
Ермачихин, А. В.
Беті 1, Нәтижелерін: 7