Цифрлі каталог


 

База данных: База IPR

Беті 1, Нәтижелерін: 2

Отмеченные записи: 0

134866
Рыбина, Н. В.
    Оптоэлектроника и квантовая оптика : учебное пособие / Рыбина Н. В. - Рязань : Рязанский государственный радиотехнический университет, 2022. - 160 с. - ISBN 978-5-7722-0363-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
квантовая оптика -- люминесценция -- оптическое излучение -- оптоэлектроника -- рассеяние света -- тепловое излучение -- фотоэффект -- эффект комптона
Аннотация: Представлена информация о законах теплового излучения, внешнем фотоэффекте, эффекте Комптона, характеристиках и параметрах оптического излучения, люминесценции и рассеянии света, усилении оптического излучения. Рассмотрены оптические явления в полупроводниках. Описаны принципы работы оптических волноводов, светоизлучающих диодов, лазеров, фотоприемников, оптопар, индикаторных приборов. Представлена также информация о нанофотонике и нанофотонных устройствах. Предназначено для аудиторной и самостоятельной работы студентов дневного отделения направления 11.03.04, изучающих дисциплину «Оптоэлектроника и квантовая оптика».

Рыбина, Н. В. Оптоэлектроника и квантовая оптика [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Рыбина Н. В., 2022. - 160 с.

1.

Рыбина, Н. В. Оптоэлектроника и квантовая оптика [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Рыбина Н. В., 2022. - 160 с.

Открыть исходную запись


134866
Рыбина, Н. В.
    Оптоэлектроника и квантовая оптика : учебное пособие / Рыбина Н. В. - Рязань : Рязанский государственный радиотехнический университет, 2022. - 160 с. - ISBN 978-5-7722-0363-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
квантовая оптика -- люминесценция -- оптическое излучение -- оптоэлектроника -- рассеяние света -- тепловое излучение -- фотоэффект -- эффект комптона
Аннотация: Представлена информация о законах теплового излучения, внешнем фотоэффекте, эффекте Комптона, характеристиках и параметрах оптического излучения, люминесценции и рассеянии света, усилении оптического излучения. Рассмотрены оптические явления в полупроводниках. Описаны принципы работы оптических волноводов, светоизлучающих диодов, лазеров, фотоприемников, оптопар, индикаторных приборов. Представлена также информация о нанофотонике и нанофотонных устройствах. Предназначено для аудиторной и самостоятельной работы студентов дневного отделения направления 11.03.04, изучающих дисциплину «Оптоэлектроника и квантовая оптика».

61119
Григорьев, А. Я.
    Физика и микрогеометрия технических поверхностей / Григорьев А. Я. - Минск : Белорусская наука, 2016. - 248 с. - ISBN 978-985-08-1999-4 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
измерение шероховатости -- микрогеометрия -- оптическая профилометрия -- техническая поверхность -- физика
Аннотация: Рассмотрены физические, технологические и эксплуатационные механизмы формирования микрогеометрии поверхностей. Обсуждаются основные способы измерения шероховатости и описания ее геометрических свойств с помощью параметров, используемых на производстве, в научных приложениях и при решении диагностических задач. Изложены вопросы регистрации и анализа информации о свойствах шероховатых поверхностей. Предназначена для научных сотрудников, инженеров-технологов и конструкторов, специалистов в области технических измерений и диагностики, аспирантов и студентов старших курсов технических вузов.

Григорьев, А. Я. Физика и микрогеометрия технических поверхностей [Электронный ресурс] / Григорьев А. Я., 2016. - 248 с.

2.

Григорьев, А. Я. Физика и микрогеометрия технических поверхностей [Электронный ресурс] / Григорьев А. Я., 2016. - 248 с.

Открыть исходную запись


61119
Григорьев, А. Я.
    Физика и микрогеометрия технических поверхностей / Григорьев А. Я. - Минск : Белорусская наука, 2016. - 248 с. - ISBN 978-985-08-1999-4 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
измерение шероховатости -- микрогеометрия -- оптическая профилометрия -- техническая поверхность -- физика
Аннотация: Рассмотрены физические, технологические и эксплуатационные механизмы формирования микрогеометрии поверхностей. Обсуждаются основные способы измерения шероховатости и описания ее геометрических свойств с помощью параметров, используемых на производстве, в научных приложениях и при решении диагностических задач. Изложены вопросы регистрации и анализа информации о свойствах шероховатых поверхностей. Предназначена для научных сотрудников, инженеров-технологов и конструкторов, специалистов в области технических измерений и диагностики, аспирантов и студентов старших курсов технических вузов.

Беті 1, Нәтижелерін: 2

 

Барлық түсімдер 
Немесе қызығушылық танытқан айыңызды таңдаңыз

 

Scroll to Top